Lastwechsel-Testequipment

Wer lebt länger – das Testsystem oder der Prüfling?

Diese Frage wollten wir natürlich zu unseren Gunsten beantworten. Die MOSFET-H-Brücke dient dem wechselseitigen Bestromen und somit der zyklischen Erwärmung von Prüflingen. Dabei wirken die Temperaturhübe stark Lebensdauer verkürzend. Auf diese Weise lassen sich unter anderem Vergleiche von verschiedenen Aufbautechniken ableiten. Damit jedoch das Testequipment durch die zyklische Belastung nicht vorzeitig ausfällt, darf es thermisch nur wenig beansprucht werden.

Das abgebildete System ist ein Beispiel aus unserem Gerätebau, in dem wir für unsere Teststände aber auch für Kunden Geräte entwickeln und fertigen.

Falls Sie also etwas benötigen, was der Markt nicht bietet, dann bauen wir es für Sie. Sprechen Sie uns an!